Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Kos, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3089-241X orcid iD

ResearcherID: S-3300-2017

Scopus: 55568000900

PBN: 5e70922b878c28a047391164

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • Fault diagnosis and fault localisation in integrated circuit by thermal method / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: The 13\textsuperscript{th} [thirteenth] International conference on Microelectronics : Rabat, Morocco October 29–31, 2001. — [Morocco : s. n.], [2001]. — Tryb dostępu: {http://www.emi.ac.ma/ ICM_2001} [28.11.2002]. — Ekran 230–233. — Bibliogr. ekran 233, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Fault localisation in Integrated Circuits by thermal method / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: MTM 2001 : 5\textsuperscript{th} [fifth] international symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems : Piteşti, June 7–9, 2001. — [Piteşti : s. n.], [2001]. — S. [72–77]. — Bibliogr. s. [77]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • On thermal time constants of VLSI circuits / Andrzej KOS // W: Advances in microelectronic device technology : 7–9 November 2001 Nanjing, China / eds. Qin-Yi Tong, Ulrich M. Goesele ; SPIE [The International Society for Optical Engineering]. — [China] : SPIE, 2001. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 4600). — ISBN10: 0-8194-4339-5. — S. 160–169. — Bibliogr. s. 169, Abstr.

  • keywords: thermal dynamics, thermal time constants, VLSI systems and circuits

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.444669

6
  • SPICE based simulations of electrothermal processes / Piotr DZIURDZIA, Andrzej KOS // W: Proceedings of the 2\textsuperscript{nd} [second] international conference on Benefiting from thermal and mechanical simulation in (micro)-electronics : 9–11 April 2001 Paris, France / eds. G. Q. Zhang, L. J. Ernst, O. de Saint Leger. — [France] : Europia productions, 2001. — S. 297–301. — Bibliogr. s. 301, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
9