profesor nadzwyczajny
Faculty of Computer Science, Electronics and Telecommunications WIEiT-ke
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf
keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Edward Kusior, Jarosław Kanak, Witold Baranowski
cyfrowy identyfikator dokumentu: