Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Kołodziej, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
  • Fabrication, characterization and modeling of thin silicon tandem cell on foil in four terminal configuration / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Witold BARANOWSKI, Tomasz KOŁODZIEJ // W: PVSC 34 [Dokument elektroniczny] : 34th IEEE Photovoltaic Specialist Conference : Philadelphia, Pennsylvania, USA : June 7 – 12, 2009 : conference proceedings / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York] : IEEE, 2009. — 1 dysk optyczny. — (Photovoltaic Specialists Conference ; ISSN 0160-8371). — ISBN: 978-1-4244-2950-9. — S. 001742–001747. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 001746–001747, Abstr.. — W bazie Web of Science ISBN: 978-1-4244-2949-3 oraz zakres stron: 397–402

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/PVSC.2009.5411449

3
  • Improvement in silicon thin film solar cell efficiency / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, S. NOWAK // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2003 vol. 11 nr 4, s. 281–289. — Bibliogr. s. 289, Abstr.

  • keywords: RF PECVD, silicon thin film solar cells, microcrystalline silicon, a-Si:H, hydrogenated amorphous silicon, triple junction solar cells, tandem junction solar cells, single junction solar cells

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Low temperature manufacturing of Si nanocrystallites in the $SiO_{x}$ matrix applicable in solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ, Michał KOŁODZIEJ // W: PVSC 39 [Dokument elektroniczny] : 39th IEEE Photovoltaic Specialists Conference : Tampa, Florida, June 16–21, 2013 : program / IEEE, Electron Devices Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Danvers]: IEEE, cop. 2013. — Opis za IEEE Xplore. — e-ISBN: 978-1-4799-3299-3. — S. 0580–0585. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6744218 [2014-02-26]. — Bibliogr. s. 0584–0585, Abstr.

  • keywords: amorphous and microcrystalline silicon, nc-Si, silicon nanocrystals, plasma deposition, RF PECVD

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/PVSC.2013.6744218

5
6
  • Modeling of top amorphous cell in four-terminal configuration with poly-silicon solar cell on the base of I-V-C and QE research / Andrzej KOŁODZIEJ, Paweł KREWNIAK, Witold BARANOWSKI, Michał Kołodziej // W: PVSC 33 [Dokument elektroniczny] : 33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference : San Diego, CA, May 11–16, 2008 : conference proceedings / IEEE, Electron Devices Society. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [New York]: IEEE, cop. 2008. — (Photovoltaic Specialists Conference ; ISSN 0160-8371). — Opis część wg. CD-ROM-u. — e-ISBN: 978-1-4244-1641-7. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego; w bazie Web of Science ISBN: 978-1-4244-1640-0 oraz zakres stron: 846-851

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • Modelowanie tylnego lustra Al/Ag/ZnO/Si w cienkowarstwowym krzemowym ogniwie słonecznymModeling of back mirror Al/Ag/ZnO/Si in thin silicon solar cell / Andrzej KOŁODZIEJ, Halina CZTERNASTEK, Witold BARANOWSKI, Mariusz SOKOŁOWSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2010 R. 51 nr 5, s. 95–98. — Bibliogr. s. 98, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Nanostructures applied to bit-cell devices / Andrzej KOŁODZIEJ, Lidia Łukasiak, Michał KOŁODZIEJ // W: Electron Technology Conference 2013 : Ryn, Poland, 16–20 April, 2013 / eds. Paweł Szczepański, Ryszard Kisiel, Ryszard S. Romaniuk. — [Bellingham] : SPIE, cop. 2013. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 8902). — ISBN: 9780819495211. — S. 89020X-1–89020X-7. — Bibliogr. s. 89020X-6–89020X-7, Abstr.

  • keywords: flash memory, MOSFETs, split-gate, SONOS, nano crystal, charge trap

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2031301

9
  • Nanostructures in thin film opto-electronics / Andrzej KOŁODZIEJ, Andrzej Jakubowski, Michał KOŁODZIEJ // W: Electron Technology Conference 2013 : Ryn, Poland, 16–20 April, 2013 / eds. Paweł Szczepański, Ryszard Kisiel, Ryszard S. Romaniuk. — [Bellingham] : SPIE, cop. 2013. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 8902). — ISBN: 9780819495211. — S. 890205-1–890205-8. — Bibliogr. s. 890205-8, Abstr.

  • keywords: nano structures, plasmon, amorphous and microcrystalline silicon, thin silicon photovoltaic cells, optoelectronic devices

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2031292

10
  • Properties of image sensor structure obtained below 120stC on the foil by reactive magnetron sputtering / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, R. TADEUSIEWICZ // W: Flat–panel displays and sensors – principles, materials and processes : symposium : April 5–9, 1999, San Francisco, California, USA / eds. F. R. Libisch [et al.] ; Materials Research Society. — Warrendale : MRS, 2000. — (Materials Research Society Symposium Proceedings ; ISSN 0272-9172 ; vol. 558). — ISBN10: 1-55899-465-3. — S. [1–6]. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — Toż w wersji drukowanej: s. 243—248. — ISBN 1-55899-465-3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

11
  • Silicon thin film multijunction solar cells / A. KOŁODZIEJ, C. R. Wronski, P. KREWNIAK, S. NOWAK // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2000 vol. 8 no. 4, s. 339–345. — Bibliogr. s. 345, Abstr.. — The E-MRS European conference on photovoltaics. — Warsaw : Centralny Ośrodek Szkolenia i Wydawnictw Stowarzyszenia Elektryków Polskich, 2000. — tekst: https://www.wat.edu.pl/review/optor/2000/4/8%284%29339.pdf

  • keywords: tandem solar cell, triple junction solar cell, multi-junction silicon solar cell

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • Stabilność cienkowarstwowych tranzystorów krzemowych oraz ogniw słonecznychStability of silicon thin film transistors and solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ. — Kraków : AGH Uczelniane Wydawnictwa Naukowo-Dydaktyczne, 2008. — 283, [1] s.. — (Rozprawy Monografie / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; ISSN 0867-6631 ; 188). — Bibliogr. s. 271–[284], Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • Staebler-Wronski effect in amorphous silicon and its alloys / A. KOŁODZIEJ // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2004 vol. 12 no. 1, s. 21–32. — Bibliogr. s. 31–32. — XVII School of Optoelectronics : Photovoltaics-Solar Cells and Detector : 13-17.10.2003, Kazimierz Dolny, Poland

  • keywords: hydrogenated amorphous and microcrystalline silicon (a-Si:H), Staebler-Wronski effect (SWE), degradation of solar cells

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • The plasmonics front electrodes applied to thin film solar cells / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Michał KOŁODZIEJ, Tomasz KOŁODZIEJ // W: PVSC 38 [Dokument elektroniczny] : 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference : Austin, Texas, USA, June 3–8, 2012, Vol. 2 / IEEE. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA]: IEEE, cop. 2012. — Opis za IEEE Xplore. — S. [1–6]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6750498 [2014-03-17]. — Bibliogr. s. [6], Abstr.. — W bazie Web of Science data wydania 2013

  • keywords: nano structures, plasmon, thin silicon photovoltaic cells, amorphous materials

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/PVSC-Vol2.2012.6750498

15
  • Thin-film Si:H-based solar cells / C. R. Wronski, B. Von Roedern, A. KOŁODZIEJ // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1145–1150. — Bibliogr. s. 1149–1150, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-18. — Zastosowano procedurę peer review. — Proceedings of the 9th Electron technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008.. — tekst: http://goo.gl/V7Nf8N

  • keywords: stability, solar cells, phase transition, thin silicon film

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.043

16
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
  • X-ray matrix sensors / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, R. TADEUSIEWICZ // W: Optoelectronic and electronic sensors III : 10–13 May 1998, Jurata, Poland / eds. Antoni Nowakowski, Bogdan Chachulski. — Washington : SPIE, 1999. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 3730). — ISBN10: 0-8194-3204-0. — S. 214–219. — Bibliogr. s. 219

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

18
  • Zastosowanie wybranych efektów kwantowych w cienkowarstwowej strukturze krzemowego ogniwa słonecznegoSelected quantum solutions in the thin film silicon solar cell / Andrzej KOŁODZIEJ // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2010 R. 51 nr 5, s. 87–91. — Bibliogr. s. 91, Streszcz., Summ.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: