Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Kołodziej, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
2
  • Improvement in silicon thin film solar cell efficiency / A. KOŁODZIEJ, P. KREWNIAK, S. NOWAK // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2003 vol. 11 nr 4, s. 281–289. — Bibliogr. s. 289, Abstr.

  • keywords: RF PECVD, silicon thin film solar cells, microcrystalline silicon, a-Si:H, hydrogenated amorphous silicon, triple junction solar cells, tandem junction solar cells, single junction solar cells

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Staebler-Wronski effect in amorphous silicon and its alloys / A. KOŁODZIEJ // Opto-Electronics Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich, Wojskowa Akademia Techniczna. Warszawa ; ISSN 1230-3402. — 2004 vol. 12 no. 1, s. 21–32. — Bibliogr. s. 31–32. — XVII School of Optoelectronics : Photovoltaics-Solar Cells and Detector : 13-17.10.2003, Kazimierz Dolny, Poland

  • keywords: hydrogenated amorphous and microcrystalline silicon (a-Si:H), Staebler-Wronski effect (SWE), degradation of solar cells

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Thin-film Si:H-based solar cells / C. R. Wronski, B. Von Roedern, A. KOŁODZIEJ // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1145–1150. — Bibliogr. s. 1149–1150, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-18. — Zastosowano procedurę peer review. — Proceedings of the 9th Electron technology conference ELTE 2007 : Cracow, 4–7 September 2007 / guest eds. Tadeusz Pisarkiewicz, Barbara Dziurdzia. — [Dorchester] : Elsevier, 2008.. — tekst: http://goo.gl/V7Nf8N

  • keywords: stability, solar cells, phase transition, thin silicon film

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.043

5
  • X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/$\mu$c-Si:H supperlattice structure / Andrzej KOŁODZIEJ, Witold BARANOWSKI, Edward KUSIOR, Jarosław KANAK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2011 vol. 41 no. 2, s. 449–454. — Bibliogr. s. 453–454. — 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland joint conference / guest eds. Andrzej Dziedzic, Jacek Radojewski, Jarosław Serafińczuk. — Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2011. — tekst: http://www.if.pwr.wroc.pl/ optappl/pdf/2011/no2/optappl_4102p449.pdf

  • keywords: atomic force microscopy, X-ray, UV-VIS-IR analysis, nc-Si:H multilayer structure

    cyfrowy identyfikator dokumentu: