Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Dziurdzia, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / informatyka techniczna i telekomunikacja (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3809-7779 orcid iD

ResearcherID: B-5065-2019

Scopus: 6506073617

PBN: 5e70922b878c28a047391116

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • A benchmark chip for measurements and experiments aiming at improving reliability of SoCs / Piotr DZIURDZIA // W: IMAPS Poland : XXX international conference of IMAPS Poland Chapter 2006 : Kraków 24–27 September 2006 : proceedings / eds. Wiesław Zaraska, Andrzej Cichocki, Dorota Szwagierczak ; Institute of Electron Technology. Cracow Division. — Kraków : IET CD, 2006 + CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 297–300. — Bibliogr. s. 300, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Current sensors for CMOS 0.7 $\mu m$ technology – comparative analysis / Piotr DZIURDZIA // W: IMAPS Poland : XXX international conference of IMAPS Poland Chapter 2006 : Kraków 24–27 September 2006 : proceedings / eds. Wiesław Zaraska, Andrzej Cichocki, Dorota Szwagierczak ; Institute of Electron Technology. Cracow Division. — Kraków : IET CD, 2006 + CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 289–292. — Bibliogr. s. 292, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Diagnostyka uszkodzeń w systemach SoC w oparciu o monitorowanie wartości średniej prądu $I_{DD}$ — [Defects diagnostic in SoC based on monitoring of mean value of IDD current] / Piotr DZIURDZIA // W: Piąta krajowa konferencja elektroniki : [Darłówko Wschodnie, 12–14 czerwca 2006] : materiały konferencji, T. 1 / kom. red. Włodzimierz Janke, Maciej Bączek, Stefan Łuczak ; Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. — [Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej], 2006. — S. 141–146. — Bibliogr. s. 146, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Model of the $SoC$ cell facilitating testing of microstructures operation / Piotr DZIURDZIA // W: IMAPS Poland : XXX international conference of IMAPS Poland Chapter 2006 : Kraków 24–27 September 2006 : proceedings / eds. Wiesław Zaraska, Andrzej Cichocki, Dorota Szwagierczak ; Institute of Electron Technology. Cracow Division. — Kraków : IET CD, 2006 + CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 293–296. — Bibliogr. s. 296, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: