Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Dziurdzia, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / informatyka techniczna i telekomunikacja (25%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-3809-7779 orcid iD

ResearcherID: B-5065-2019

Scopus: 6506073617

PBN: 5e70922b878c28a047391116

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • A benchmark chip for measurements and experiments aiming at improving reliability of SoCs / Piotr DZIURDZIA // W: IMAPS Poland : XXX international conference of IMAPS Poland Chapter 2006 : Kraków 24–27 September 2006 : proceedings / eds. Wiesław Zaraska, Andrzej Cichocki, Dorota Szwagierczak ; Institute of Electron Technology. Cracow Division. — Kraków : IET CD, 2006 + CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 297–300. — Bibliogr. s. 300, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Current sensors for CMOS 0.7 $\mu m$ technology – comparative analysis / Piotr DZIURDZIA // W: IMAPS Poland : XXX international conference of IMAPS Poland Chapter 2006 : Kraków 24–27 September 2006 : proceedings / eds. Wiesław Zaraska, Andrzej Cichocki, Dorota Szwagierczak ; Institute of Electron Technology. Cracow Division. — Kraków : IET CD, 2006 + CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 289–292. — Bibliogr. s. 292, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Diagnostyka uszkodzeń w systemach SoC oparta na monitorowaniu średniej wartości prądu $I_{DD}$Defects diagnostic in SoC based on monitoring of mean value of $I_{DD}$ current / Piotr DZIURDZIA // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2006 R. 47 nr 11, s. 23–25. — Bibliogr. s. 25, Streszcz., Summ.. — KKE : V Krajowa Konferencja Elektroniki : Darłówko Wschodnie 12–14 czerwca 2006 r.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Diagnostyka uszkodzeń w systemach SoC w oparciu o monitorowanie wartości średniej prądu $I_{DD}$[Defects diagnostic in SoC based on monitoring of mean value of IDD current] / Piotr DZIURDZIA // W: Piąta krajowa konferencja elektroniki : [Darłówko Wschodnie, 12–14 czerwca 2006] : materiały konferencji, T. 1 / kom. red. Włodzimierz Janke, Maciej Bączek, Stefan Łuczak ; Wydział Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej. — [Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej], 2006. — S. 141–146. — Bibliogr. s. 146, Streszcz.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Model of the $SoC$ cell facilitating testing of microstructures operation / Piotr DZIURDZIA // W: IMAPS Poland : XXX international conference of IMAPS Poland Chapter 2006 : Kraków 24–27 September 2006 : proceedings / eds. Wiesław Zaraska, Andrzej Cichocki, Dorota Szwagierczak ; Institute of Electron Technology. Cracow Division. — Kraków : IET CD, 2006 + CD-ROM. — Opis częśc. wg okł.. — S. 293–296. — Bibliogr. s. 296, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: