Wykaz publikacji wybranego autora

Grzegorz Deptuch, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-1703-6758 połącz konto z ORCID

ResearcherID: M-1133-2015

Scopus: 56046747800

PBN: 5e7093b2878c28a0473af55f

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • FRIC – a 50 ${\mu}m$ pixel-pitch single photon counting ASIC with Pattern Recognition algorithm in 40 nm CMOS technology / P. OTFINOWSKI, G. W. DEPTUCH, P. MAJ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2020 vol. 15 art. no. C01016, S. 1–8. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2020-01-16. — G. W. Deptuch - dod. afiliacja: Fermilab, USA. — 21\textsuperscript{th} international workshop on Radiation Imaging Detectors : 7–12 July 2019, Crete, Greece. — tekst: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1748-0221/15/01/C01016/pdf

  • keywords: pattern recognition, cluster finding, digital electronic circuits, solid state, electronic detector readout concepts, data reduction methods, calibration and fitting methods

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Maj, Piotr Otfinowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/15/01/C01016