Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Bratek, dr inż.

adiunkt

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-4846-343X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6508064555

PBN: 5e70922b878c28a0473910e8

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2

  • Fault diagnosis and fault localisation in integrated circuit by thermal method / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: The 13\textsuperscript{th} [thirteenth] International conference on Microelectronics : Rabat, Morocco October 29–31, 2001. — [Morocco : s. n.], [2001]. — Tryb dostępu: {http://www.emi.ac.ma/ ICM_2001} [28.11.2002]. — Ekran 230–233. — Bibliogr. ekran 233, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kos

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

  • Fault localisation in Integrated Circuits by thermal method / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: MTM 2001 : 5\textsuperscript{th} [fifth] international symposium on Microelectronics Technologies and Microsystems : Piteşti, June 7–9, 2001. — [Piteşti : s. n.], [2001]. — S. [72–77]. — Bibliogr. s. [77]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kos

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

  • Temperature sensors placement strategy for fault diagnosis in Integrated Circuits / Piotr BRATEK, Andrzej KOS // W: SEMI-THERM : semiconductor thermal measurement and management symposium : San Jose, CA USA March 20–22, 2001 : proceedings 2001. — [Piscataway : IEEE], [2001]. — (Seventeenth Annual IEEE). — Na okł. dodatkowo: 1950–2000 Celebrating 50 [fiftieth] years of technology. — ISBN10: 0-7803-6649-2. — S. 245–251. — Bibliogr. s. 251, Abstr.. — tekst: https://ieeexplore-1ieee-1org-1000047i60104.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=915185

  • keywords: integrated circuits, fault diagnosis, sensors placement strategy, thermal testing method

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Kos

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/STHERM.2001.915185