Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Maj, dr hab. inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki



Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 101, z ogólnej liczby 112 publikacji Autora


1
2
  • 23552-channel IC for single photon counting pixel detectors with 75 $\mu m$ pitch, ENC of 89 $e^{-}$ rms, 19 $e^{-}$ rms offset spread and 3\% rms gain spread / P. MAJ, P. GRYBOŚ, P. KMON, R. SZCZYGIEŁ // W: ESSCIRC 2014 [Dokument elektroniczny] : 40\textsuperscript{th} European Solid-State Circuit Conference : Venezia Lido, Italy, September 22–26, 2014 : proceedings / ed. by Pietro Andreani, Andrea Bevilacqua, Gaudenzio Meneghesso. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2014. — (Proceedings of ESSCIRC ; ISSN 1930-8833). — e-ISBN: 978-1-4799-5694-4. — S. 147–150. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 150, Abstr.. — Dod. ISBN 978-1-4799-5696-8. — tekst: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6942043

  • keywords: pixel detectors, X-ray imaging, matching

3
  • 32k channels readout IC for single photon counting detectors with 75 $\mu$ pitch, ENC of 123 $e^{-}$ rms, 9$e^{-}$ rms offset spread and 2\% rms gain spread / P. GRYBOŚ, P. KMON, P. MAJ, R. SZCZYGIEŁ // W: BioCAS 2015 [Dokument elektroniczny] : 11 \textsuperscript{th} annual IEEE Biomedical Circuits and Systems Conference : engineering for healthy minds and able bodies : Atlanta, USA, October 22–24, 2015 : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2015. — Dysk Flash. — e-ISBN: 978-1-4799-7233-3. — S. 612–615. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 615, Abstr.. — Dod. ISBN 978-1-4799-7234-0

  • keywords: pixel detectors, X-ray imaging, matching

4
5
6
  • ADCs in deep submicron technologies for ASICs of pixel architecture / Piotr OTFINOWSKI, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Piotr MAJ // W: DDECS : proceedings of the 2014 IEEE 17th international symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : April 23–25, 2014, Warsaw, Poland / eds. Witold Pleskacz, [et al.]. — [Piscataway : IEEE], cop. 2014. — ISBN: 978-1-4799-4560-3. — S. 278–281. — Bibliogr. s. 281, Abstr.

  • keywords: pixel, ADC, low-area, low-power

7
  • Akcelerometryczny system badania i analizy choduGait analysis system based on accelerometers / Piotr MAJ, Katarzyna BARCZEWSKA, Aleksandra Drozd, Jakub KOWALSKI // W: Modelowanie i pomiary w medycynie MPM 2012 : materiały XI sympozjum : Krynica Zdrój, 13–17 maja 2012 : streszczenia referatów = Modelling and measurements in medicine / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii i Elektroniki, Instytut Biocybernetyki i Inżynierii Biomedycznej PAN w Warszawie. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii i Elektroniki AGH, 2012. — ISBN: 978-83-61528-32-6. — S. 77–78. — Bibliogr. s. 78, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

8
  • Akcelerometryczny system badania i analizy choduGait analysis system based on accelerometers / Piotr MAJ, Katarzyna BARCZEWSKA, Aleksandra Drozd, Jakub KOWALSKI // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2012 vol. 58 nr 4, s. 327–330. — Bibliogr. s. 330, Streszcz., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

9
  • Algorithms for minimization of charge sharing effects in a hybrid pixel detector taking into account hardware limitations in deep submicron technology / P. MAJ, A. Baumbaugh, G. DEPTUCH, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2012 vol. 7 art. no. C12020, ekran [1], 1–7. — Tryb dostępu: http://iopscience.iop.org/1748-0221/7/12/C12020/pdf/1748-0221_7_12_C12020.pdf [2013-01-03]. — Bibliogr. ekran 6–7, Abstr.. — Afiliacja G. Deptuch: Fermilab Natl Accelerator Lab, Batavia. — 14th International workshop on Radiation imaging detectors : 1–5 July 2012, Figueira da Foz, Portugal

  • keywords: front-end electronics for detector readout, electronic detector readout concepts (solid-state), analysis and statistical methods, simulation methods and programs

10
  • Analysis of full charge reconstruction algorithms for X-ray pixelated detectors / A. Baumbaugh, G. Carini, G. Deptuch, P. GRYBOŚ, J. Hoff, P. MAJ, P. Siddons, R. SZCZYGIEŁ, M. Trimpl, R. Yarema // W: 2011 IEEE Nuclear science symposium and Medical imaging conference [Dokument elektroniczny] : 18th international workshop on Room-temperature semiconductor x-ray and gamma-ray detectors : industrial exhibition/short courses/ special focus workshops : Valencia, Spain, 23–29 October 2011 / guest ed. Mokhtar Chmeissani ; The Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], [2011]. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-0119-0. — S. 660–667. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 667, Abstr.. — G. Deptuch – afiliacja: Fermi National Accelerator Laboratory, USA. — W bazie Web of Science brak afiliacji AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

11
  • An automated system for testing readout electronics of silicon strip X-ray detectors / Piotr MAJ, Adrian GORAL, Paweł GRYBOŚ // W: 2012 IEEE Nuclear Science Symposium, Medical Imaging Conference (NSS/MIC) & Workshop on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors [Dokument elektroniczny] : October 29 – November 3, 2012, Anaheim, California. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Piscataway : IEEE, cop. 2012. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4673-2029-0. — S. 1060–1068. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD. — Bibliogr. s. 1068, Abstr.. — Brak afiliacji AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

12
13
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayersZastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multilayers, strip detector of X-ray diffractometer

14
  • ASICs in nanometer and 3D technologies for readout of hybrid pixel detectors / Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ // W: Electron Technology Conference 2013 : Ryn, Poland, 16–20 April, 2013 / eds. Paweł Szczepański, Ryszard Kisiel, Ryszard S. Romaniuk. — [Bellingham] : SPIE, cop. 2013. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 8902). — ISBN: 9780819495211. — S. 890204-1–890204-6

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

15
16
  • A fast 300k X-ray camera with an energy window selection and continuous readout mode / Piotr MAJ, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Takuto Sakumura, Yuji Tsuji, Yasukazu Nakaye // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4799-3423-2. — S. [1–4]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [4], Abstr.. — W bazie Web of Science wersja ISBN 978-1-4799-0534-8

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

17
18
  • A low noise, fast pixel readout IC working in single photon counting mode with energy window selection in 90 nm CMOS / Robert SZCZYGIEŁ, Paweł GRYBOŚ, Piotr MAJ // W: ISCAS 2011 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Symposium on Circuits and Systems : May 15\textsuperscript{th} to 18\textsuperscript{th}, 2011, Rio de Janeiro, Brazil : conference proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2011. — Dane na dysku Flash. — e-ISBN: 978-1-4244-9472-9. — S. 1415–1418. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader. — Bibliogr. s. 1418, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

19
20
  • A pixel readout chip designed in 90nm CMOS process for high count rate imaging systems / R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ, P. MAJ // W: 2009 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference [Dokument elektroniczny] : Orlando Florida, 25–31 October : 2009 conference record / guest ed. Bo Yu. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers], cop. 2009. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4244-3962-1. — S. 1103–1106. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 1106, Summ., Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

21
  • A pixel readout chip in 40 nm CMOS process for high count rate imaging systems with minimization of charge sharing effects / P. MAJ, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, P. KMON, A. DROZD, G. Deptuch // W: 2013 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium & Medical Imaging Conference : October 27 – November 2, Seoul, Korea / guest ed. Yong Choi ; Institute of Electrical and Electronics Engineers. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Piscataway : IEEE], cop. 2013. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-1-4799-3423-2. — S. [1–5]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [5], Abstr.. — W bazie Web of Science wersja: ISBN 978-1-4799-0534-8. — G. Deptuch – afiliacja: Fermi National Accelerator Laboratory, USA

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

22
23
24
  • Comparison of allocation algorithms for unambiguous registration of hits in presence of charge sharing in pixel detectors / P. OTFINOWSKI, P. MAJ, G. DEPTUCH, F. Fahim, J. Hoff // Journal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1748-0221. — 2017 vol. 12 art. no. C01027, s. [1], 1–10. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 9–10, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-01-10. — G. Deptuch - dod. afiliacja: Fermi National Accelerator Laboratory, USA. — 18\textsuperscript{th} International Workshop on Radiation Imaging Detectors : 3–7 July 2016, Barcelona, Spain. — tekst: https://goo.gl/NpF7lC

  • keywords: electronic detector readout concepts (solid-state), simulation methods and programs , pattern recognition, cluster finding, calibration and fitting methods

25