Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 900705

System Informacyjny AGH (SkOs)




Opisy publikacji wcześniejszych zobacz: bpp.agh.edu.pl/old.


Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 114, z ogólnej liczby 114 publikacji Autora


1
  • Adsorpcja białek i ich konformacja na cienkich warstwach politiofenów: charakteryzacja spektro- i mikroskopowa[Effects of polythiophene surface structure on adsorption and conformation of proteins : a multi-technique study] / K. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK // W: KM 2014 : Kryształy Molekularne 2014 : materiały XIX ogólnopolskiej konferencji : Sromowce Niżne, 8–12 września 2014 r. / red. Piotr Zieliński, Andrzej Budziak ; Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk. — Tarnów : Tomasz Mariusz Majka, cop. 2014. — ISBN: 978-83-937270-1-8. — S. 41. — Bibliogr. s. 41

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

2
  • Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines / M. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 103–104. — Bibliogr. s. 104

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

3
4
  • Argon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy / Andrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski // W: WOREN 2013 : 3\textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — ISBN: 978-83-925779-4-2. — S. 9. — Bibliogr. s. 9

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

5
  • Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski // W: XIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — ISBN: 978-83-63713-59-1. — S. 38. — Bibliogr. s. 38

  • keywords: polymer, sputtering, XPS, GCIB

6
  • Argon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: ECASIA'13 : 15th European conference on Applications of surface and interface analysis : 13\textsuperscript{th} – 18\textsuperscript{th} October 2013 Cagliari, Sardinia (Italy) / ed. A. Rossi, B. Elsener ; Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche Università di Cagliari, Sardinia, Italy. — [Cagliari : s. n.], [2013]. — ISBN: 978-88-907670-0-5. — S. 80

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

7
  • Bovine serum albumin adsorption to thin film surfaces of poly(3-alkylthiopene)s : AFM, XPS and ToF-SIMS studies / K. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK // W: 4th international colloids conference [Dokument elektroniczny] : surface design & engineering : 15–18 June 2014, Madrid, Span. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Spain : s. n.], [2014]. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.colloidsconference.com/conference-register.html [2014-09-23]. — Tekst dostępny po zalogowaniu

  • keywords: TOF-SIMS, principal component analysis, poly(3-alkylthiophene), bovine serum albumin

8
9
  • Characterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy / J. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 147. — Bibliogr. s. 147

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

10
  • Charakterystyka złącza polimer-metal metodą kelvinowskiej mikroskopii sił[Characterization of polymer-metal interface by Kelvin Probe Force Microscopy] / MARZEC M. M., BERNASIK A., Awsiuk K., Rysz J., Budkowski A., ŁUŻNY W. // W: Kryształy molekularne : materiały XVIII ogólnopolskiej konferencji : Gdańsk–Sobieszewo, 10–14 września 2012 / Politechnika Gdańska. Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej. Katedra Fizyki Zjawisk Elektronowych. — [Gdańsk : PG], [2012]. — S. 32. — Marzec M. M., Bernasik A., Łużny W. – afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej, Kraków

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

11
  • Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 95. — Bibliogr. s. 95

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

12
  • Chemical stability of polymers under argon gas cluster ion beam and x-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, Jakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // Journal of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics and Nanometer Structures ; ISSN 1071-1023. — 2016 vol. 34 iss. 3, s. 030604-1–030604-5. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-16. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: http://goo.gl/t00txz

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

13
  • Cohesion and adhesion effects in (templated) self-organization of conjugated polymer blend films used in plastic electronics / Andrzej Budkowski, Ellen Moons, Justyna Jaczewska, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Ioannis Raptis // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]. — Bibliogr. s. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

14
15
  • Contact pin-printing of albumin-fungicide conjugate for silicon nitride-based sensors biofunctionalization: multi-technique surface analysis for optimum immunoassay performance / Katarzyna Gajos, [et al.], Andrzej BERNASIK, [et al.] // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 410, s. 79–86. — Bibliogr. s. 85–86, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-03-11. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMIN AGH. — tekst: https://goo.gl/8PhETQ

  • keywords: atomic force microscopy, time-of-flight secondary ion mass spectrometry, silicon nitride, spectroscopic ellipsometry, contact pin-printing, immunosensor biofunctionalization

16
  • Core-shell polymer microspheres – depth profiling using cluster ions and XPS : [abstract] / Jakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Monika Gosecka, Joanna Raczkowska, Kamil Awsiuk, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski, Teresa Basinska // W: SIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID RM-Thu2-2-4. — Tryb dostępu: http://sims.confer.uj.edu.pl/boa_oral.php?id=257 [2017-09-28]. — Bibliogr. s. [1]. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMiN AGH

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

17
  • Covalent bonding and physical adsorption of immunoglobulin on silicon nitride modified with organo-silanes: comparison using AFM, angle-resolved XPS and multivariate TOF-SIMS analysis / K. Awsiuk, A. Budkowski, P. Petrou, A. BERNASIK, S. Kakabakos, J. Rysz, I. Raptis // W: ISSIS 2012 : 3\textsuperscript{rd} International Symposium on Surface Imaging/Spectroscopy at the solid/liquid interface : May 27\textsuperscript{th}–June 1\textsuperscript{st}, 2012, Kraków, Poland : book of abstracts / ed. G. Mordarski ; PAN, Warsaw University. Department of Chemistry, Foundation ”Pro–Kataliza”. — Kraków : Polish Academy of Sciences. Jerzy Haber Institute of Catalysis and Surface Chemistry, 2012. — ISBN: 978-83-60514-17-7. — S. 80–81. — Bibliogr. s. 81

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

18
19
  • Dendrites and pillars in spin cast blends of polyaniline or its oligomeric analogue / J. HABERKO, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, J. Raczkowska, J. Rysz, A. Budkowki // Synthetic Metals ; ISSN 0379-6779. — 2010 vol. 160 iss. 23–24, s. 2459–2466. — Bibliogr. s. 2466, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

20
  • Depth profiling and scanning near-field optical microscopy studies of phase separation in thin polymer films for solar cell applications / J. Rysz, A. Budkowski, J. Raczkowska, J. Jaczewska, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, E. Moons // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]. — Bibliogr. s. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

21
  • Depth profiling of multilayers for spintronics and plastic electronics / Jakub Rysz, Andrzej BERNASIK, Mateusz MARZEC, Andrzej Budkowski, Jerzy WRONA, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI // W: SIMS Europe 2012 : 8\textsuperscript{th} European workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 9–11, 2012, Münster, Germany : final program and book of abstracts / Westfälische Wilhelms-Universität Münster. — [Münster : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 34. — Bibliogr. s. 34

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

22
23
  • Dipole-dipole interactions at buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy and Secondary Ion Mass Spectrometry / M. M. MARZEC, A. BERNASIK, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 155. — Bibliogr. s. 155

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

24
  • Effects of polythiophene surface structure on adsorption and conformation of bovine serum albumin : a multivariate and multitechnique study / K. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK // Langmuir ; ISSN 0743-7463. — 2014 vol. 30 iss. 46, s. 13925–13933. — Bibliogr. s. 13932–13933, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

25
  • Effect of dispersant on the physicochemical and electrochemical properties of the EPD-deposited CNTS layers / Aleksandra BENKO, Marek NOCUŃ, Jan WYRWA, Katarzyna BERENT, Andrzej BERNASIK, Marta BŁAŻEWICZ // W: Carbon2016 [Dokument elektroniczny] : common fundamentals, remarkably versatile applications : State College, USA, July 10–15 [2016]. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [USA : s. n.], [2016]. — Dysk Flash. — S. 1–3. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 2

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych