Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Klita, mgr inż.

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kchk, Katedra Chemii Krzemianów i Związków Wielkocząsteczkowych

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: brak ResearcherID: brak Scopus: 55442800900	OPI Nauka Polska

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 55442800900

wydruk:

sortowanie:

1

Tytuł	Fabrication and characterization of oxygen – diffused titanium using spectroscopy method
Autorzy	M. Lubas, M. SITARZ, J. J. Jasiński, P. JELEŃ, Ł. KLITA, P. Podsiad, J. Jasiński
Źródło	Spectrochimica Acta. Part A, Molecular and Biomolecular Spectroscopy. — 2014 vol. 133, s. 883–886. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S138614251400955X/pdfft?md5=600e4059d6ba4f6c353785b4b9cb49ae&pid=1-s2.0-S138614251400955X-main.pdf

2

Tytuł	Studies of dodecaphenyl polyhedral oligomeric silsesquioxane thin films on Si(100) wafers
Autorzy	Bartosz HANDKE, Łukasz KLITA, Jacek NIZIOŁ, Witold JASTRZĘBSKI, Anna ADAMCZYK
Źródło	Journal of Molecular Structure. — 2014 vol. 1065–1066, s. 248–253. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022286014002403/pdfft?md5=a5e6a3102df3bccb8908998eee8d5911&pid=1-s2.0-S0022286014002403-main.pdf

3

Tytuł	X-ray diffraction and reflectometry of phenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films
Autorzy	Łukasz KLITA, Bartosz HANDKE
Źródło	Workshop on X-ray scattering methods for thin film characterization [Dokument elektroniczny] : 25–26 September 2014, Prague, Czech Republic : program and abstracts / The Faculty of Mathematics and Physics of the Charles University in Prague, PANalytical B.V., Netherlands. — [Prague : s. n.], 2014. — S. [1]