2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata DUBIEL, Elżbieta STĘPNIOWSKA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — 311 s.. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy

Analiza wydzieleń faz $\gamma$' i $\gamma$” w nadstopie niklu IN718 metodami wysokorozdzielczej mikroskopii elektronowej i holografii elektronowej — Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy Inconel 718 using HRTEM and electron holography methods / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, P. Formanek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: XXXVI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 23–26 IX 2008 / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2008] + CD-ROM. — Na okł. tyt.: Prace Szkoły Inżynierii Materiałowej. — S. 61–65. — Bibliogr. s. 65, Streszcz., Abstr.

Analysis of $\gamma$' and $\gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract / E. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 306–307

Analytical electron microscopy and electron holography of ${Co}$ magnetic layers deposited on ${Cu}$ / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, H. FIGIEL, F. CIURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 158

Analytical TEM and electron holography of ferromagnetic cobalt nanolayers : abstract / E. STĘPNIOWSKA, D. Wolf, B. DUBIEL, T. ŚLĘZAK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 2\textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — Na s. tyt. dod.: ESTEEM – Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy. — ISBN: 978-83-60958-23-0. — S. 308–309

Analytical TEM and electron holography of magnetic field distribution in nanocrystalline ${Co}$ layers deposited on ${Cu}$ / B. DUBIEL, D. Wolf, E. STĘPNIOWSKA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2008 : 14th European Microscopy Congress : 1–5 September 2008, Aachen, Germany. Vol. 1, Instrumentation and methods / eds. Martina Luysberg, Karsten Tillmann, Thomas Weirich. — Berlin ; Heidelberg : Springer-Verlag, cop. 2008. — ISBN: 978-3-540-85154-7. — S. 253–254. — Bibliogr. s. 254

European workshop on Promoting gender mainstreaming in Central and Eastern Europe : 8–9.12.2008, Kraków, Poland : proceedings / eds. A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, E. STĘPNIOWSKA ; AGH University of Science and Technology, European Network of Excellence CMA Complex Metallic Alloys. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — 195 s.. — ISBN: 978-83-60958-34-6

HRTEM and electron holography studies of strengthening particles in Inconel 718 superalloy / B. DUBIEL, E. STĘPNIOWSKA, P. Formanek, D. Geiger, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 7-th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 7–10 September 2008, Warsaw, Poland : programme and book of abstracts / Institute of Electron Technology. — [Warsaw : IET], [2008]. — S. D1.3. — Bibliogr. s. D1.3

Quantification and 3D visualisation of strenghtening particles in INCONEL 718 superalloy / E. STĘPNIOWSKA, D. Geiger, G. CEMPURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 159