Wykaz publikacji wybranego autora

Maciej Ziętara, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8048-9410 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 38461653700

PBN: 5e70925b878c28a047394526

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Measurements of microstructure parameters in single crystal nickel-base superalloysPomiar parametrów mikrostruktury w monokrystalicznych nadstopach niklu / Maciej ZIĘTARA, Alan Cetel, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2008 R. 29 nr 4, s. 188–191. — Bibliogr. s. 191, Abstr., Streszcz.. — Kopia artykułu w: 3rd Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy focused on alloys & Symposium of the International Centre of Electron Microscopy for Materials Science at the AGH University of Science and Technology : Kraków, 19–20.05.2011. — STERMAT 2008 : VIII international conference on Stereology and image analysis in materials science : Zakopane, Poland, 2–6 September, 2008 / eds. Jacek Chrapoński, Leszek Wojnar. — Warszawa : Wydawnictwo SIGMA-NOT, 2008

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Microstructural development of the PWA 1484 ${Ni}$-base superalloy during creep deformation / M. ZIĘTARA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — ISBN: 978-83-60958-15-5. — S. 172

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • TEM and SEM studies of rafting in 4th generation Ni-base superalloy / M. ZIĘTARA, A. Cetel, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 7-th Polish-Japanese joint seminar on Micro and nano analysis : 7–10 September 2008, Warsaw, Poland : programme and book of abstracts / Institute of Electron Technology. — [Warsaw : IET], [2008]. — S. A2.3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: