Wykaz publikacji wybranego autora

Maria Jurzecka-Szymacha, dr inż.

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów

2018
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-1368-9199 ResearcherID: B-3923-2017 Scopus: 38361639600 PBN: 5e70937a878c28a0473aa9c5	OPI Nauka Polska System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1368-9199 orcid iD

ResearcherID: B-3923-2017

Scopus: 38361639600

PBN: 5e70937a878c28a0473aa9c5

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji

rocznik	l. publ.	książki	fragm.	referaty	artykuły	patenty	mapy	red. czas.	inne
ogółem	30	—	1	14	15	—	—	—	—
2023	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2022	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2021	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2020	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2019	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2016	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2015	5	—	—	3	2	—	—	—	—
2014	1	—	1	—	—	—	—	—	—
2013	2	—	—	1	1	—	—	—	—
2011	1	—	—	—	1	—	—	—	—
2010	3	—	—	1	2	—	—	—	—
2009	1	—	—	1	—	—	—	—	—
2008	6	—	—	3	3	—	—	—	—
2007	4	—	—	4	—	—	—	—	—
2006	1	—	—	1	—	—	—	—	—

język publikacji

rocznik	razem	polskojęzyczne	anglojęzyczne	pozostałe języki
ogółem	30	12	18	—
2023	1	—	1	—
2022	1	—	1	—
2021	1	—	1	—
2020	1	—	1	—
2019	1	—	1	—
2016	1	—	1	—
2015	5	2	3	—
2014	1	—	1	—
2013	2	1	1	—
2011	1	—	1	—
2010	3	2	1	—
2009	1	—	1	—
2008	6	4	2	—
2007	4	3	1	—
2006	1	—	1	—

kraj wydania

rocznik	razem	publ. krajowe	publ. zagraniczne
ogółem	30	19	11
2023	1	—	1
2022	1	—	1
2021	1	—	1
2020	1	—	1
2019	1	—	1
2016	1	—	1
2015	5	4	1
2014	1	1	—
2013	2	2	—
2011	1	—	1
2010	3	2	1
2009	1	—	1
2008	6	5	1
2007	4	4	—
2006	1	1	—

Lista Filadelfijska

rocznik	razem	publ. z LF	publ. pozostałe
ogółem	30	9	21
2023	1	1	—
2022	1	1	—
2021	1	1	—
2020	1	1	—
2019	1	1	—
2016	1	1	—
2015	5	1	4
2014	1	—	1
2013	2	—	2
2011	1	1	—
2010	3	—	3
2009	1	—	1
2008	6	1	5
2007	4	—	4
2006	1	—	1

punktacja MNiSW

rocznik	razem	publ. z pkt. MNiSW	publ. pozostałe
ogółem	30	18	12
2023	1	1	—
2022	1	1	—
2021	1	1	—
2020	1	1	—
2019	1	1	—
2016	1	1	—
2015	5	2	3
2014	1	—	1
2013	2	1	1
2011	1	1	—
2010	3	2	1
2009	1	—	1
2008	6	6	—
2007	4	—	4
2006	1	—	1

publikacje recenzowane

rocznik	razem	publ. recenzowane	publ. nierecenzowane
ogółem	30	19	11
2023	1	1	—
2022	1	1	—
2021	1	1	—
2020	1	1	—
2019	1	1	—
2016	1	1	—
2015	5	2	3
2014	1	1	—
2013	2	1	1
2011	1	1	—
2010	3	2	1
2009	1	—	1
2008	6	6	—
2007	4	—	4
2006	1	—	1

sortowanie:

1

[referat, 2007]

Tytuł	Amorficzne warstwy azotku krzemu ${a-Si_{x}N_{y}:H}$ na polikrystalicznym krzemie
Autorzy	Maria JURZECKA, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Rafał M. NOWAK, Karol KYZIOŁ
Źródło	VI Konferencja Polskiego Towarzystwa Ceramicznego : Zakopane 13–16 września 2007 r. : streszczenia, program / red. z. Zbigniew Pędzich ; Polskie Towarzystwo Ceramiczne. — Kraków : PTC, cop. 2007. — S. 135

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Stanisława Kluska, Karol Kyzioł, Rafał Nowak

cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

[referat, 2008]

Tytuł	Amorphous ${a-Si_{x}N_{y}:H}$ layers on polycrystalline silicon
Autorzy	Maria JURZECKA, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Rafał M. NOWAK, Karol KYZIOŁ
Źródło	Postępy technologii ceramiki, szkła i budowlanych materiałów wiążących : materiały VI konferencji Polskiego Towarzystwa Ceramicznego pod patronatem Prof. dr hab. inż. Krzysztofa J. Kurzydłowskiego Podsekretarza Stanu w Ministerstwie Nauki i Szkolnictwa Wyższego : Zakopane 2007, [T. 1] / pod red. M. M. Bućko, K. Haberko, Z. Pędzich. — Kraków : Polskie Towarzystwo Ceramiczne, 2008. — S. 631–637

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Stanisława Kluska, Karol Kyzioł, Rafał Nowak

cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

[referat, 2006]

Tytuł	Amorphous $a-Si_{x}N_{y}:H$ layers on silicon substrate for application in solar cells
Autorzy	Maria JURZECKA, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA
Źródło	E-MRS 2006 fall meeting : Warsaw (Poland), 4th – 8th September, 2006 : scientific programme and book of abstracts / European Materials Research Society. — [Warsaw : Warsaw University of Technology], [2006]. — S. 38, Poster A/PII.11

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Stanisława Kluska

cyfrowy identyfikator dokumentu:

4

[artykuł w czasopiśmie, 2019]

Tytuł	Film materials based on $a–SiN_x:H$ with high refractive index obtained by plasma enhanced chemical vapour deposition technology
Autorzy	J. Jaglarz, M. JURZECKA-SZYMACHA, S. KLUSKA
Źródło	Thin Solid Films. — 2019 vol. 669, s. 564–570. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027f50144.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0040609018307910/pdfft?md5=9ea9fc5df282afc8a8ddcdad3154ec88&pid=1-s2.0-S0040609018307910-main.pdf

keywords: high refractive index, silicon nitride dielectric layers, thermooptical properties

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Kluska

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.tsf.2018.11.050

5

[referat w czasopiśmie, 2008]

Tytuł	Gradientowe warstwy $a-SiN_{x}:H$ osadzane plazmochemicznie w układzie Rf CVD
Autorzy	Maria JURZECKA-SZYMACHA, Stanisława KLUSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	Inżynieria Materiałowa. — 2008 R. 29 nr 6, s. 768–771

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Kluska, Katarzyna Tkacz-Śmiech

cyfrowy identyfikator dokumentu:

6

[artykuł w czasopiśmie, 2015]

Tytuł	Modyfikacja powierzchni PEEK za pomocą plazmy niskotemperaturowej
Autorzy	Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Karol KYZIOŁ
Źródło	Inżynieria Materiałowa. — 2015 R. 36 nr 1, s. 33–36

słowa kluczowe: modyfikacja PEEK, obróbka plazmowa, trawienie jonowe powierzchni

keywords: plasma treatment, PEEK modification, PECVD

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Stanisława Kluska, Karol Kyzioł

cyfrowy identyfikator dokumentu:

7

[referat, 2015]

Tytuł	On the correlation between the chemical composition of the amorphous $a-Si_{x}C_{y}N_{z}(H)$ layers deposited by PACVD and their band gap
Autorzy	Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Stanisława KLUSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	SENM 2015 [Dokument elektroniczny] : Smart Engineering of New Materials : 22–25 June 2015 Lodz, Poland : abstract book. — [Lodz : s. n.], [2015]. — S. [1]

keywords: PACVD, band gap, spectroscopic ellipsometry, amorphous a-SixCyNz(H) layers, optical constants

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Stapiński, Stanisława Kluska, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Barbara Swatowska

cyfrowy identyfikator dokumentu:

8

[referat, 2015]

Tytuł	On the correlation between the chemical composition of the amrophous $a-Si_{x}C_{y}N_{z}(H)$ layers deposited by PACVD and their band gap
Autorzy	Stanisława KLUSKA, Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	MicroTherm 2015 [Dokument elektroniczny] : Microtechnology and Thermal Problems in Electronics : June 23textsuperscript{rd} – June 25textsuperscript{th} 2015, Lodz, Poland : official proceedings / ed. Jacek Podgórski. — Lodz : Lodz University of Technology, cop. 2015. — S. 31–35

keywords: PACVD, band gap, amorphous a-SixCyNz(H) layers, optical constants, specroscopic ellipsometry

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Stapiński, Stanisława Kluska, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Barbara Swatowska

cyfrowy identyfikator dokumentu:

9

[artykuł w czasopiśmie, 2015]

Tytuł	Optical characteristics of $a-Si:H$ layers deposited by PACVD at various temperatures
Autorzy	Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Bouchta Sahraoui
Źródło	Optical Materials. — 2015 vol. 39, s. 26–33. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0925346714005163/pdfft?md5=c715176f11b6e89198742e523fad0881&pid=1-s2.0-S0925346714005163-main.pdf

keywords: PACVD, band gap, spectroscopic ellipsometry, amorphous hydrogenated silicon, optical indices, depolarization phenomena

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Katarzyna Tkacz-Śmiech

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.optmat.2014.10.057

10

[referat, 2007]

Tytuł	Otrzymywanie i właściwości warstw ${a-C:N:H}$ na poliwęglanie
Autorzy	Rafał M. NOWAK, Stanisława JONAS, Karol KYZIOŁ, Maria JURZECKA
Źródło	VI Konferencja Polskiego Towarzystwa Ceramicznego : Zakopane 13–16 września 2007 r. : streszczenia, program / red. z. Zbigniew Pędzich ; Polskie Towarzystwo Ceramiczne. — Kraków : PTC, cop. 2007. — S. 47

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Karol Kyzioł, Rafał Nowak

cyfrowy identyfikator dokumentu:

11

[referat, 2008]

Tytuł	Otrzymywanie i właściwości warstw ${a-C:N:H}$ na poliwęglanie
Autorzy	Rafał M. NOWAK, Stanisława JONAS, Karol KYZIOŁ, Maria JURZECKA
Źródło	Postępy technologii ceramiki, szkła i budowlanych materiałów wiążących : materiały VI konferencji Polskiego Towarzystwa Ceramicznego pod patronatem Prof. dr hab. inż. Krzysztofa J. Kurzydłowskiego Podsekretarza Stanu w Ministerstwie Nauki i Szkolnictwa Wyższego : Zakopane 2007, [T. 1] / pod red. M. M. Bućko, K. Haberko, Z. Pędzich. — Kraków : Polskie Towarzystwo Ceramiczne, 2008. — S. 617–622

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Karol Kyzioł, Rafał Nowak

cyfrowy identyfikator dokumentu:

12

[artykuł w czasopiśmie, 2013]

Tytuł	Otrzymywanie i właściwości warstw $a-Si:H$ do zastosowań w fotowoltaice
Autorzy	Ewa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA
Źródło	Logistyka. — 2013 nr 4 dod.: CD Logistyka – nauka : artykuły recenzowane, s. 419–427

słowa kluczowe: amorficzny krzem, elipsometria, PACVD

keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Piotr Boszkowicz, Ewa Pieczyńska

cyfrowy identyfikator dokumentu:

13

[referat, 2007]

Tytuł	PE CVD deposition of amorphous ${a-Si_{x}N_{y}:H}$ layers on polycrystalline silicon
Autorzy	Maria JURZECKA, Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Halina CZTERNASTEK, Katarzyna ZAKRZEWSKA
Źródło	ELTE 2007 : IX electron technology conference : Kraków 4–7.09.2007 : book of abstracts / eds. Katarzyna Zakrzewska, Halina Czternastek, Barbara Swatowska, Michał Warzecha ; AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics. Department of Electronics. — Kraków : Przedsiębiorstwo Wielobranżowe STABIL, [2007]. — S. 257

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Halina Czternastek, Stanisława Dalczyńska-Jonas, Katarzyna Zakrzewska, Stanisława Kluska

cyfrowy identyfikator dokumentu:

14

[referat w czasopiśmie, 2008]

Tytuł	Reakcje prowadzące do wzrostu warstw $a-SiN_{x}:H$ w układzie PE CVD
Autorzy	Piotr BOSZKOWICZ, Stanisława JONAS, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	Inżynieria Materiałowa. — 2008 R. 29 nr 6, s. 776–779

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Piotr Boszkowicz

cyfrowy identyfikator dokumentu:

15

[referat w czasopiśmie, 2008]

Tytuł	RF PE CVD deposition of amorphous a-$Si_{x}N_{y}:H$ layers for application in solar cells
Autorzy	Maria JURZECKA, Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Halina CZTERNASTEK, Katarzyna ZAKRZEWSKA
Źródło	Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1128–1132. — tekst: http://goo.gl/ZWJEX9

keywords: solar cells, optical properties, amorphous a-SixNy:H layers, RF CVD method

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Halina Czternastek, Stanisława Dalczyńska-Jonas, Katarzyna Zakrzewska, Stanisława Kluska

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.030

16

[referat, 2010]

Tytuł	Silicon nitride layers of various N-content : technology, properties and structure : [abstract]
Autorzy	Maria JURZECKA-SZYMACHA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Stanisława KLUSKA
Źródło	TCM 2010 [Dokument elektroniczny] : 3rd international symposium on Transparent Conductive Materials (former TCO) : 17–21 October, 2010, Analipsi/ Herosonissos, Greece. — [s. l. : s. n.], [2010]. — S. [1]

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Kluska, Katarzyna Tkacz-Śmiech

cyfrowy identyfikator dokumentu:

17

[artykuł w czasopiśmie, 2011]

Tytuł	Silicon nitride layers of various n-content: technology, properties and structure
Autorzy	Maria JURZECKA-SZYMACHA, Piotr BOSZKOWICZ, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	Thin Solid Films. — 2011 vol. 520 iss. 4, s. 1308–1312. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609011009989/pdfft?md5=ed106766c460c16d2069933f54abae52&pid=1-s2.0-S0040609011009989-main.pdf

keywords: solar cells, a-SiNx:H layers, RFCVD, refractive index, FTIR spectrum

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Katarzyna Tkacz-Śmiech, Piotr Boszkowicz

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.tsf.2011.04.157

18

[referat, 2009]

Tytuł	Silicon nitride layers of various n-content: technology, properties and structure modelling
Autorzy	Maria JURZECKA-SZYMACHA, Piotr BOSZKOWICZ, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Stanisława JONAS
Źródło	ICCS15 [Dokument elektroniczny] : 15textsuperscript{th} International conference on Composite Structures : Porto, Portugal, June 15–17, 2009. — [Portugal : s. l.], [2009]. — S. 1–3

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Piotr Boszkowicz

cyfrowy identyfikator dokumentu:

19

[fragment książki, 2014]

Tytuł	Structure and optical properties of nitrogen-doped silicon and carbon layers deposited by PACVD
Autorzy	Ewa PIECZYŃSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA
Źródło	EYEC monograph : 3textsuperscript{rd} European Young Engineers Conference : April 29–30textsuperscript{th} 2014, Warsaw / ed. Michał Wojasiński. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2014. — S. 224–225

keywords: RF PACVD, ellipsometry, optical filters

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Ewa Pieczyńska

cyfrowy identyfikator dokumentu:

20

[artykuł w czasopiśmie, 2010]

Tytuł	Synergiczne układy warstwowe: azotek krzemu – warstwa przejściowa na multikrystalicznym krzemie
Autorzy	Wojciech Bąk, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Stanisława JONAS, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	Inżynieria Materiałowa. — 2010 R. 31 nr 4, s. 864–868

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Dalczyńska-Jonas, Katarzyna Tkacz-Śmiech

cyfrowy identyfikator dokumentu:

21

[referat, 2015]

Tytuł	Termooptyczne właściwości warstw a-Si:H otrzymywanych w procesie PACVD
Autorzy	Ewa BARANIAK, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Janusz Jaglarz
Źródło	Dokonania naukowe doktorantów 3 [Dokument elektroniczny] : materiały konferencyjne – streszczenia : materiały Konferencji Młodych Naukowców : Kraków, 18.04.2015 r. / oprac. Marcin Kuczera, Krzysztof Piech. — Kraków : CREATIVETIME, [2015]. — S. 86

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Ewa Baraniak

cyfrowy identyfikator dokumentu:

22

[artykuł w czasopiśmie, 2016]

Tytuł	The chemical composition and band gap of amorphous Si:C:N:H layers
Autorzy	Barbara SWATOWSKA, Stanisława KLUSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Tomasz STAPIŃSKI, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
Źródło	Applied Surface Science. — 2016 vol. 371, s. 91–95. — tekst: http://www.sciencedirect.com.atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0169433216303762/pdfft?md5=51f00a70b7f5ea3d944549450032976d&pid=1-s2.0-S0169433216303762-main.pdf

keywords: PACVD, band gap, spectroscopic ellipsometry, optical constants, amorphous Si:C:N:H layers

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Stapiński, Stanisława Kluska, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Barbara Swatowska

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2016.02.198

23

[artykuł w czasopiśmie, 2021]

Tytuł	The heterostructures of $CuO$ and $SnO_x$ for $NO_2$ detection
Autorzy	Anna Paleczek, Bartłomiej SZAFRANIAK, Łukasz FUŚNIK, Andrzej BRUDNIK, Dominik GROCHALA, Stanisława KLUSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Erwin Maciak, Piotr Kałużyński, Artur RYDOSZ
Źródło	Sensors [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2021 vol. 21 iss. 13 art. no. 4387, s. 1–17. — tekst: https://www.mdpi.com/1424-8220/21/13/4387/pdf

keywords: CuO, impedance spectroscopy, tin oxide, gas sensing, copper oxide, NO2 detection, SnOx

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Brudnik, Stanisława Kluska, Artur Rydosz, Łukasz Stefan Fuśnik, Bartłomiej Szafraniak, Dominik Grochala

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/s21134387

24

[artykuł w czasopiśmie, 2022]

Tytuł	The optical and thermo-optical properties of non-stoichiometric silicon nitride layers obtained by the PECVD method with varying levels of nitrogen content
Autorzy	Stanisława KLUSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Natalia Nosidlak, Piotr Dulian, Janusz Jaglarz
Źródło	Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2022 vol. 15 iss. 6 art. no. 2260, s. 1-12. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/15/6/2260/pdf

keywords: spectroscopic ellipsometry, thermooptical properties, PECVD technique, amorphous SiNx:H layers

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Kluska

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma15062260

25

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	The optical properties of thin film alloys of ZnO, $TiO_2$ and $ZrO_2$ with $Al_2O_3$ synthesised using atomic layer deposition
Autorzy	Natalia Nosidlak, Janusz Jaglarz, Andrea Vallati, Piotr Dulian, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Sylwia Gierałtowska, Aleksandra Seweryn, Łukasz Wachnicki, Bartłomiej S. Witkowski, Marek Godlewski
Źródło	Coatings [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2023 vol. 13 iss. 11 art. no. 1872, s. 1–12. — tekst: https://www.mdpi.com/2079-6412/13/11/1872/pdf?version=1698811743

- słowa kluczowe
- DOI
keywords: ellipsometry, optical properties, ALD deposition, thin dielectric films

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/coatings13111872

Bibiografia Publikacji Pracowników Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie

Wykaz publikacji wybranego autora

Maria Jurzecka-Szymacha, dr inż.