Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Maj, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1059-6376 orcid iD

ResearcherID: H-1069-2014

Scopus: 56046667100

PBN: 5e70922c878c28a04739118c

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayersZastosowanie krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych metalicznych układów wielowarstwowych / P. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81. — Bibliogr. s. 81. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • On the detection performance of semi-insulating $GaAs$ detectors coupled to multichannel ASIC DX64 for X-ray imaging applications / Bohumír Zat'ko, František Dubecký, Pavol Ščepko, Paweł GRYBOŚ, Ján Mudroň, Piotr MAJ, Robert SZCZYGIEŁ, Ivan Frollo // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment ; ISSN 0168-9002. — 2008 vol. 591 iss. 1, s. 101–104. — Bibliogr. s. 104, Abstr.. — Radiation imaging detectors 2007 : proceedings of the 9th international workshop on radiation imaging detectors : Erlangen, Germany, 22–26 July 2007. — tekst: http://goo.gl/Yc54T7

  • keywords: X-ray detection, GaAs, semiinsulating, multi-channel readout chip, gamma-ray detection

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2008.03.031