Wykaz publikacji wybranego autora

Aldona Garbacz-Klempka, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Odlewnictwa
WO-ktf, Katedra Tworzyw Formierskich, Technologii Formy i Odlewnictwa Metali Nieżelaznych

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / metalurgia

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-8417-6131 orcid iD

ResearcherID: A-3083-2017

Scopus: 35088115000

PBN: 5e709208878c28a04738ee24

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Application of Scanning Electron Microscopy to analyze the technology of making prehistoric ornaments / Aldona GARBACZ-KLEMPKA, Małgorzata PEREK-NOWAK, Marcin PIĘKOŚ, Janusz KOZANA // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 89. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: castings, copper alloys, scanning electron microscopy, X-ray spectroscopy, ornaments, metal working

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marcin Piękoś, Janusz Kozana, Małgorzata Perek-Nowak

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Scanning electron microscopy and stylistic & metallurgical analysis of the medieval small lead seals and lead seals from archaeological excavations / Aldona GARBACZ-KLEMPKA, Małgorzata PEREK-NOWAK, Iwona Florkiewicz // W: EM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30\textsuperscript{th} - December 2\textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — 1 dysk optyczny. — S. 88. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM

  • keywords: lead, scanning electron microscopy, X-ray spectroscopy, archaeology

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Małgorzata Perek-Nowak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: