Wykaz publikacji wybranego autora

Kazimierz Kowalski, dr hab. inż., prof. AGH

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9400-3357 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7103026661

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułA microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-delta}/Si$ thin films
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160

  • keywords: thin films, gas sensors, XPS analysis, SIMS, CuOx-CeO2

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Agnieszka Kopia, Magdalena Chmielowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
  • [artykuł w czasopiśmie, 2009]
  • TytułAnodic and nanostructural layers on titanium and its alloys for medical applications
    AutorzyElżbieta Krasicka-Cydzik, Kazimierz KOWALSKI, Agnieszka Kaczmarek
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2009 R. 30 nr 5, s. 425–428

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2011]
  • TytułAnodowe właściwości niklu w metanolowych roztworach $LiClO_{4}$
    AutorzyMaciej GRUSZKA, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej JANAS, Jacek BANAŚ
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2011 R. 32 nr 1, s. 30–36

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Janas, Jacek M. Banaś, Maciej Gruszka

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2013]
  • TytułCharacterization of lanthanum lutetium oxide thin films grown by pulsed laser deposition
    AutorzyAgnieszka KOPIA, Christine Leroux, Kazimierz KOWALSKI, Madjid Arab, Frederic Guinneton, Jean Raymond Gavarri
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2013 R. 34 nr 6, s. 720–723

  • słowa kluczowe: cienkie warstwy, ablacja laserowa, detektory

    keywords: laser ablation, thin films, detector

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Agnieszka Kopia

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [artykuł w czasopiśmie, 2013]
  • TytułCharacterization of $Ti/TiN$ multilayer coating deposited using PLD technique
    AutorzyMonika SOLECKA, Agnieszka RADZISZEWSKA, Kazimierz KOWALSKI, Tomasz MOSKALEWICZ
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2013 R. 34 nr 4, s. 374–377

  • słowa kluczowe: powłoka, ablacja laserowa, Ti, TiN, tribologiczne multiwarstwy

    keywords: pulsed laser deposition, Ti, TiN, coating, tribological multilayer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Moskalewicz, Agnieszka Radziszewska, Monika Solecka

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
10
  • [artykuł w czasopiśmie, 2013]
  • TytułDevelopment of oxide scale at $1,100^{circ}$C on Fe20Cr5Al alloy non-implanted and yttrium-implanted
    AutorzyJerzy JEDLIŃSKI, Jean-Luc Grosseau-Poussard, Kazimierz KOWALSKI, Jarosław DĄBEK, Günter Borchardt
    ŹródłoOxidation of Metals. — 2013 vol. 79 iss. 1–2, s. 41–51

  • keywords: FeCrAl high temperature alloys, reactive elements, alumina scales

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jarosław Dąbek, Jerzy Jedliński

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11085-012-9354-y

11
  • [referat w czasopiśmie, 2007]
  • TytułDiffusion of Ce in yttria-stabilized zirconia and in titania-doped yttria-stabilized zirconia
    AutorzyKazimierz KOWALSKI
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2007 R. 28 nr 3–4, s. 407–410

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
14
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułElectron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-delta}/Si$ thin films
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux
    ŹródłoSurface Science. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Agnieszka Kopia, Magdalena Chmielowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

15
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułFlame-made $WO_{3}/CeO_{x}-TiO_{2}$ catalysts for selective catalytic reduction of $NO_{x}$ by $NH_{3}$
    AutorzyKatarzyna A. Michalow-Mauke, Ye Lu, Kazimierz KOWALSKI, Thomas Graule, Maarten Nachtegaal, Oliver Kröcher, Davide Ferri
    ŹródłoACS Catalysis [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2015 vol. 5 iss. 10, s. 5657–5672. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw9sx015c.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acscatal.5b01580

  • keywords: SCR, NH3, rutile, ceria, NOx reduction, tungsta, titania, flame-spray synthesis

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acscatal.5b01580

16
  • [referat w czasopiśmie, 2015]
  • TytułGrowth mechanism of and residual stresses in scales on oxide-dispersion-strengthened $Fe20Cr5Al+Y_{2}O_{3}$ alumina former oxidized at $1000^{circ}$C
    AutorzyJerzy JEDLIŃSKI, Remigiusz GOŁDYN, Jean Luc Grosseau-Poussard, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej BERNASIK, Zbigniew Żurek, Günter Borchardt
    ŹródłoAnnales de Chimie Science des Matériaux. — 2015 vol. 39 [n.] 3–4, s. 133–140

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Andrzej Bernasik, Jerzy Jedliński, Remigiusz Gołdyn

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3166/acsm.39.133-140

17
18
19
  • [referat w czasopiśmie, 2015]
  • TytułInfluence of Sr-doping on the structure of $LaCoO_{3}$ thin films prepared by Pulsed Laser Deposition
    AutorzyKOPIA Agnieszka, CIENIEK Łukasz, KOWALSKI Kazimierz, KUSIŃSKI Jan
    ŹródłoDiffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena. — 2015 vol. 231, s. 19–24

  • keywords: pulsed laser deposition, thin films, perovskite LaCoO3

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Kusiński, Agnieszka Kopia, Łukasz Cieniek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP/231/19

20
21
  • [artykuł w czasopiśmie, 2016]
  • TytułInfluence of the substrate on the structure stability $LaLuO_{3}$ thin films deposited by PLD method
    AutorzyA. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, J. R. Gavarri
    ŹródłoVacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology. — 2016 vol. 134, s. 120–129. — tekst: https://goo.gl/y1zWU9

  • keywords: PLD, XPS, thin films LaLuO3

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Agnieszka Kopia

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2016.10.005

22
23
24
  • [artykuł w czasopiśmie, 2009]
  • TytułMechanistic aspects of Pt-modified $beta-NiAl$ alloy oxidation
    AutorzyGrzegorz SMOŁA, Wen Wang, Jerzy JEDLIŃSKI, Brian Gleeson, K. KOWALSKI, A. BERNASIK, M. NOCUŃ
    ŹródłoMaterials at High Temperatures. — 2009 vol. 26 no. 3, s. 273–280

  • keywords: thermal shocks, secondary ion mass spectrometry, oxidation kinetics, two stage oxidation, beta-NiAl, alumina formers, secondary electron microscopy

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Nocuń, Andrzej Bernasik, Jerzy Jedliński, Grzegorz Smoła

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3184/096034009X463907

25