Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Chruściel, mgr

specjalista

Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science
WIMiIP-kmm

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-6457-5984 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6507607580

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3dec

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [proceedings, 2009]
  • TytułNieniszcząca metoda pomiaru grubości powłok Cu
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia, M. GOŁY
    Źródło51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — S. 32
2
  • [chapter, 2009]
  • TytułNieniszczące pomiary grubości powłok elektrolitycznych
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia, M. GOŁY
    ŹródłoXXXVII Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 29.IX–2.X.2009 : monografia / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2009]. — S. 225–228
3
  • [proceedings, 2009]
  • TytułNieniszczący pomiar grubości powłok
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, M. GOŁY, K. CHRUŚCIEL, E. Garcia
    ŹródłoKrajowa konferencja badań radiograficznych : „Popów 2009„ : 24–26 sierpnia 2009 r. : zbiór referatów / Politechnika Poznańska, NDT System – Warszawa. — Warszawa ; Poznań : s. n., 2009. — S. 115–121
4
  • [proceedings, 2009]
  • TytułRozwój tekstury w spłaszczanych drutach ze stali austenicznej AISI 302
    AutorzyJoanna KOWALSKA, Wiktoria RATUSZEK, Krzysztof CHRUŚCIEL
    Źródło51 Konwersatorium Krystalograficzne : III sesja naukowa i warsztaty PTK : Wrocław, 25–27 VI 2009 : program, streszczenia komunikatów, lista uczestników i autorów prac / Komitet Krystalografii PAN, Polskie Towarzystwo Krystalograficzne, Instytut Niskich Temperatur i Badań Strukturalnych PAN. — [Wrocław : s. n.], [2009]. — S. 279–280