Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Boszkowicz, mgr inż.

doktorant

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska



Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem11371
2013211
2011211
2010413
200911
200822
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem1165
2013211
2011211
2010422
200911
200822
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem1174
201322
2011211
2010422
200911
200822
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem11110
201322
2011211
201044
200911
200822
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem1174
2013211
2011211
2010431
200911
200822
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1174
2013211
2011211
2010431
200911
200822



1
  • [inne, 2011]
  • TytułKrzemowe warstwy funkcjonalne na ogniwa słoneczne
    AutorzyPiotr BOSZKOWICZ ; promotor/opiekun naukowy Katarzyna Tkacz-Śmiech
    ŹródłoDoctus : Małopolski fundusz stypendialny dla doktorantów 2008/2011 : człowiek – najlepsza inwestycja. — Kraków : Małopolskie Centrum Przedsiębiorczości, [2011]. — S. 10
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułOsadzanie warstw w warunkach plazmy: zarodkowanie czy polimeryzacja?
    AutorzyKatarzyna TKACZ-ŚMIECH, Stanisława JONAS, Piotr BOSZKOWICZ
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2008 R. 29 nr 6, s. 764–767
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2013]
  • TytułOtrzymywanie i właściwości warstw $a-Si:H$ do zastosowań w fotowoltaice
    AutorzyEwa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA
    ŹródłoLogistyka. — 2013 nr 4 dod.: CD Logistyka – nauka : artykuły recenzowane, s. 419–427
  • słowa kluczowe: amorficzny krzem, elipsometria, PACVD

    keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
6
7
  • [referat, 2009]
  • TytułSilicon nitride layers of various n-content: technology, properties and structure modelling
    AutorzyMaria JURZECKA-SZYMACHA, Piotr BOSZKOWICZ, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Stanisława JONAS
    ŹródłoICCS15 [Dokument elektroniczny] : 15textsuperscript{th} International conference on Composite Structures : Porto, Portugal, June 15–17, 2009. — [Portugal : s. l.], [2009]. — S. 1–3
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [referat, 2010]
  • TytułSubstrates Si for solar cells – a review : [abstract]
    AutorzyP. BOSZKOWICZ, K. TKACZ-ŚMIECH, S. JONAS
    ŹródłoTCM 2010 [Dokument elektroniczny] : 3rd international symposium on Transparent Conductive Materials (former TCO) : 17–21 October, 2010, Analipsi/ Herosonissos, Greece. — [s. l. : s. n.], [2010]. — S. [1]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • [referat, 2013]
  • TytułThe preparation and properties of amorphous-silicon layers (a-Si:H) for applications in photovoltaics
    AutorzyEwa PIECZYŃSKA, Piotr BOSZKOWICZ, Maria JURZECKA-SZYMACHA
    ŹródłoVIII Krakow conference of young scientists 2013 : Krakow, September 26–28, 2013 : book of abstracts / AGH University of Science and Technology in Krakow, Grupa Naukowa Pro Futuro. — Krakow : Agencja Reklamowo-Wydawnicza ”OSTOJA”, 2013. — S. 11
  • keywords: amorphous silicon layers, RF PACVD, solar cells, ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2010]
  • TytułWarstwy a-SiNx:H o różnej zawartości azotu osadzane w układzie PECVD
    AutorzyKatarzyna TKACZ-ŚMIECH, Piotr BOSZKOWICZ, Stanisława KLUSKA, Maria JURZECKA-SZYMACHA
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2010 R. 31 nr 4, s. 1260–1264
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: