Wykaz publikacji wybranego autora

Bartosz Handke, dr hab., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kchk, Katedra Chemii Krzemianów i Związków Wielkocząsteczkowych


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-9535-5888 orcid iD

ResearcherID: L-6485-2017

Scopus: 6603282811

PBN: 5e70920a878c28a04738efbd

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • The uniaxial pressure dependence of dielectric properties of $Na_{0.5}K_{0.5}(Nb_{0.96}Sb_{0.04})O_{3}+0.5mol\%MnO_{2}$ ceramics / I. Faszczowy, J. Suchanicz, T. V. Kruzina, T. Maslanka, M. Ingwer-Zabowska, W. PIEKARCZYK, B. HANDKE, P. JELEŃ, M. SOKOŁOWSKI // Ferroelectrics ; ISSN 0015-0193. — 2014 vol. 464 iss. 1 spec. iss., s. 101–106. — Bibliogr. s. 106

  • keywords: dielectric properties, uniaxial pressure, Na0.5K0.5(Nb0.96Sb0.04)O3+0.5mol%MnO2

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1080/00150193.2014.893158

3
  • X-ray diffraction and reflectometry of phenyl polyhedral oligomeric silsesquioxanes thin films / Łukasz KLITA, Bartosz HANDKE // W: Workshop on X-ray scattering methods for thin film characterization [Dokument elektroniczny] : 25–26 September 2014, Prague, Czech Republic : program and abstracts / The Faculty of Mathematics and Physics of the Charles University in Prague, PANalytical B.V., Netherlands. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Prague : s. n.], 2014. — S. [1]. — Tryb dostępu: http://kfkl.cz/wxray2014/abstract-book [2014-09-18]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: