Wykaz publikacji wybranego autora

Kazimierz Kowalski, dr hab. inż., prof. AGH

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9400-3357 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7103026661

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Non-stoichiometry of TiO2-x thin films studied with X-ray spectroscopies / K. BIERNACKA, M. SIKORA, Cz. KAPUSTA, J. Szlachetko, K. ZAKRZEWSKA, K. KOWALSKI, E. PAMUŁA, M. RADECKA // W: E-MRS 2012 Fall Meeting [Dokument elektroniczny] : September 17–21, 2012, Warsaw. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Warsaw : s. n.], [2012]. — Dysk Flash. — S. [10–11]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader. — Tytuł przejęto ze s. tyt. (po wybraniu opcji: Symposium K)

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Thin films of titanium dioxide doped with nitrogen $TiO_{2}:N$ for photoelectrochemical applications / A. TRENCZEK-ZAJĄC, E. PAMUŁA, M. RADECKA, K. KOWALSKI, K. ZAKRZEWSKA // W: XVI French-Polish seminar on Reactivity of solids : December 10–12, 2012, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : s. n.], [2012]. — S. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: