Wykaz publikacji wybranego autora

Kazimierz Kowalski, dr hab. inż., prof. AGH

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9400-3357 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7103026661

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • A microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin filmsMikroskopowe i spektroskopowe badania cienkich warstw $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ / A. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160. — Bibliogr. 160. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: thin films, gas sensors, XPS analysis, SIMS, CuOx-CeO2

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Electron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films / A. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — Bibliogr. s. 1320–1321, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-11. — M. Chmielowska - pierwsza afiliacja: Université du Sud Toulon-Var, France. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

3
  • Nitrogen-doped titanium dioxide – characterization of structural and optical properties / M. BUĆKO, K. KOWALSKI, M. RADECKA, A. TRENCZEK-ZAJĄC, K. ZAKRZEWSKA // W: SPEA5 : 5\textsuperscript{th} European conference on Solar chemistry & photocatalysis: environmental applications : October 4–8 2008, Palermo (Sicilia), Italy : book of abstracts. — [Italy : s. n.], [2008]. — S. [1–2], PP3.55. — Bibliogr. s. [2]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Wpływ podłoża na właściwości fizykochemiczne i aktywność fotokatalityczną cienkich warstw ${TiO_{2}}$Influence of support on physicochemical properties and photocatalytic activity of ${TiO_{2}}$ thin films / Tomasz Kasza, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej Stokłosa // W: Postępy technologii ceramiki, szkła i budowlanych materiałów wiążących : materiały VI konferencji Polskiego Towarzystwa Ceramicznego pod patronatem Prof. dr hab. inż. Krzysztofa J. Kurzydłowskiego Podsekretarza Stanu w Ministerstwie Nauki i Szkolnictwa Wyższego : Zakopane 2007, [T. 1] = Advances in the technology of ceramic, glass and mineral binding materials / pod red. M. M. Bućko, K. Haberko, Z. Pędzich. — Kraków : Polskie Towarzystwo Ceramiczne, 2008. — (Polski Biuletyn Ceramiczny / Polskie Towarzystwo Ceramiczne) ; (Prace Komisji Nauk Ceramicznych / Polska Akademia Nauk. Oddział w Krakowie ; vol. 103/1. Ceramika ; ISSN 0860-3340). — Opis częśc. wg okł.. — S. 129–136. — Bibliogr. s. 136

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: