Wykaz publikacji wybranego autora

Kazimierz Kowalski, dr hab. inż., prof. AGH

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9400-3357 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7103026661

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • Electron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films / A. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — Bibliogr. s. 1320–1321, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-11. — M. Chmielowska - pierwsza afiliacja: Université du Sud Toulon-Var, France. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

2
  • Nitrogen-doped titanium dioxide – characterization of structural and optical properties / M. BUĆKO, K. KOWALSKI, M. RADECKA, A. TRENCZEK-ZAJĄC, K. ZAKRZEWSKA // W: SPEA5 : 5\textsuperscript{th} European conference on Solar chemistry & photocatalysis: environmental applications : October 4–8 2008, Palermo (Sicilia), Italy : book of abstracts. — [Italy : s. n.], [2008]. — S. [1–2], PP3.55. — Bibliogr. s. [2]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: