Wykaz publikacji wybranego autora

Kazimierz Kowalski, dr hab. inż., prof. AGH

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9400-3357 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7103026661

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1

  • Separacja faz w cienkowarstwowych mieszaninach polianilina-polistyren — [Phase separation in thin films of polyaniline/polystyrene blends] / Andrzej BERNASIK, Jadwiga WŁODARCZYK-MIŚKIEWICZ, Jakub HABERKO, Wojciech ŁUŻNY, Kazimierz KOWALSKI, Joanna Raczkowska, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski // W: „Kryształy molekularne” : XIV ogólnopolska konferencja : Częstochowa – Złoty Potok 21–25 września 2004 : streszczenia / Instytut Fizyki Wyższej Szkoły Pedagogicznej w Częstochowie. — [Częstochowa : IF WSP], [2004]. — S. [1], K 26. — Bibliogr. s. [1]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wojciech Łużny, Andrzej Bernasik, Jadwiga Włodarczyk-Miśkiewicz, Jakub Haberko

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Wybrane metody badań struktury i własności cienkich warstw i powierzchni materiałów — Selected research methods of structure and properties of thin films and material surfaces / Jan KUSIŃSKI, Magdalena CHMIELOWSKA, Agnieszka KOPIA, Kazimierz KOWALSKI, Radosław CHMIELOWSKI // Hutnik Wiadomości Hutnicze : czasopismo naukowo-techniczne poświęcone zagadnieniom hutnictwa ; ISSN 1230-3534. — 2004 R. 71 nr 3, s. 120–128. — Bibliogr. s. 128

  • słowa kluczowe: mikrostruktura, katalizator, dyfuzja, XPS, tlenek cyrkonu, SIMS, cienkie warstwy CeO2 domieszkowane Cu, segregacja

    keywords: microstructure, diffusion, segregation, catalyst, XPS, zirconia, SIMS, thin films CeO2 oped Cu

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jan Kusiński, Agnieszka Kopia, Magdalena Klimczak-Chmielowska, Radosław Chmielowski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: