Wykaz publikacji wybranego autora

Kazimierz Kowalski, dr hab. inż., prof. AGH

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9400-3357 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 7103026661

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c9

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • A microscopic and spectroscopic investigations in $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin filmsMikroskopowe i spektroskopowe badania cienkich warstw $CuO_{X}-CeO_{2-\delta}/Si$ / A. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, M. CHMIELOWSKA // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 157–160. — Bibliogr. 160. — Zastosowano procedurę peer review. — SOTAMA : symposium on Texture and microstructure analysis : September 26–28, 2007, Cracow, Poland / guest eds. Jerzy Jura, Ewa Bełtowska, Jan T. Bonarski ; Institute of Metallurgy and Materials Science of the Polish Academy of Sciences, Cracow. — Warszawa ; Kraków : PAS. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2008

  • keywords: thin films, gas sensors, XPS analysis, SIMS, CuOx-CeO2

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
5
  • Competition between phosphates and fluorides at anodic formation of titania nanotubes on titanium / Elżbieta Krasicka-Cydzik, Kazimierz KOWALSKI, Agnieszka Kaczmarek, Izabela Glazowska, Krzysztof Bialas-Heltowski // Surface and Interface Analysis ; ISSN 0142-2421. — 2010 vol. 42 iss. 6–7, s. 471–474. — Bibliogr. s. 474. — ECASIA'09 : European Applications of Surface and Interface Analysis / eds. Marie-Laure Abel, Sefik Suzer, John F. Watts. — Chichester : John Wiley & Sons Ltd., cop. 2010. — tekst: https://6108fca59343f3e4411dafb0-r3ntz4vb0020.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/epdf/10.1002/sia.3306

  • keywords: competition, phosphates, porous titanium oxide, anodic oxidation, fluorides, self organization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1002/sia.3306

6
  • Composition effects in polymer blends spin-cast on patterned substrates / J. Raczkowska, P. Cyganik, A. Budkowski, A. BERNASIK, J. Rysz, I. Raptis, P. Czuba, K. KOWALSKI // Macromolecules / American Chemical Society ; ISSN 0024-9297. — 2005 vol. 38 iss. 20, s. 8486–8493. — Bibliogr. s. 8493, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2005-09-02. — tekst: https://pubs.acs.org/doi/pdf/10.1021/ma051242s

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/ma051242s

7
  • Development of oxide scale at $1,100^{\circ}$C on Fe20Cr5Al alloy non-implanted and yttrium-implanted / Jerzy JEDLIŃSKI, Jean-Luc Grosseau-Poussard, Kazimierz KOWALSKI, Jarosław DĄBEK, Günter Borchardt // Oxidation of Metals ; ISSN 0030-770X. — 2013 vol. 79 iss. 1–2, s. 41–51. — Bibliogr. s. 51, Abstr.

  • keywords: FeCrAl high temperature alloys, reactive elements, alumina scales

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/s11085-012-9354-y

8
9
  • Diffusion of niobium in yttria-stabilized zirconia and in titania-doped yttria-stabilized zirconia polycrystalline materials / K. KOWALSKI, A. BERNASIK, J. Camra, M. RADECKA, J. JEDLIŃSKI // Journal of the European Ceramic Society ; ISSN 0955-2219. — Tytuł poprz.: International Journal of High Technology Ceramics. — 2006 vol. 26, s. 3139–3143. — Bibliogr. s. 3143, Abstr.

  • keywords: diffusion, ZrO2, grain boundaries, Nb, grain boundary diffusion

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.jeurceramsoc.2005.10.004

10
11
12
13
14
15
  • Electron microscopy and spectroscopy investigations of $CuO_{x}-CeO_{2-\delta}/Si$ thin films / A. KOPIA, K. KOWALSKI, M. CHMIELOWSKA, Ch. Leroux // Surface Science ; ISSN 0039-6028. — 2008 vol. 602 iss. 7, s. 1313–1321. — Bibliogr. s. 1320–1321, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2008-01-11. — M. Chmielowska - pierwsza afiliacja: Université du Sud Toulon-Var, France. — tekst: http://goo.gl/zWfb6M

  • keywords: copper, catalysis, microscopy, oxides, X-ray photoelectron spectroscopy, cerium, thin film structures, transmission electron

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.susc.2007.12.041

16
17
  • Flame-made $WO_{3}/CeO_{x}-TiO_{2}$ catalysts for selective catalytic reduction of $NO_{x}$ by $NH_{3}$ / Katarzyna A. Michalow-Mauke, Ye Lu, Kazimierz KOWALSKI, Thomas Graule, Maarten Nachtegaal, Oliver Kröcher, Davide Ferri // ACS Catalysis [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 2155-5435. — 2015 vol. 5 iss. 10, s. 5657–5672. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 5671–5672, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2015-08-14. — tekst: https://pubs-1acs-1org-137rjw9sx015c.wbg2.bg.agh.edu.pl/doi/pdf/10.1021/acscatal.5b01580

  • keywords: SCR, NH3, rutile, ceria, NOx reduction, tungsta, titania, flame-spray synthesis

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1021/acscatal.5b01580

18
19
20
21
22
23
  • Influence of the substrate on the structure stability $LaLuO_{3}$ thin films deposited by PLD method / A. KOPIA, K. KOWALSKI, Ch. Leroux, J. R. Gavarri // Vacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology ; ISSN 0042-207X. — 2016 vol. 134, s. 120–129. — Bibliogr. s. 129, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2016-10-08. — tekst: https://goo.gl/y1zWU9

  • keywords: PLD, XPS, thin films LaLuO3

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2016.10.005

24
  • Influence of W addition on microstructure and resistance to brittle cracking of $TiB_{2}$ coatings deposited by DCMS / Edyta CHUDZIK-POLISZAK, Łukasz CIENIEK, Tomasz MOSKALEWICZ, Kazimierz KOWALSKI, Agnieszka KOPIA, Jerzy Smolik // Materials [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne ; ISSN 1996-1944. — 2021 vol. 14 iss. 16 art. no. 4664, s. 1–12. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Bibliogr. s. 11–12, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-08-18. — tekst: https://www.mdpi.com/1996-1944/14/16/4664/pdf

  • keywords: TEM, magnetron sputtering, XPS, XRD, TiB2-W coatings

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/ma14164664

25