Wykaz publikacji wybranego autora

Szymon Bugiel, dr inż.

pracownik inżynieryjno-techniczny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kod, Katedra Oddziaływań i Detekcji Cząstek


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0884-1440 połącz konto z ORCID

ResearcherID: J-3887-2018

Scopus: 56341406100

PBN: 5e70929d878c28a0473992e8

OPI Nauka Polska





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 26, z ogólnej liczby 26 publikacji Autora


1
2
  • [referat, 2016]
  • TytułCracow SOI pixel detector characterization
    AutorzyDASGUPTA Roma, BUGIEL Szymon, IDZIK Marek, Kapusta Piotr, KUCEWICZ Wojciech, Nurnberg Andreas
    ŹródłoCLIC detector and physics collaborating meeting [Dokument elektroniczny] : 30–31 August 2016, CERN, [Zurich, Switzerland]. — [Geneva : s. n.], [2016]. — Slajdy 1–15
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • [referat, 2015]
  • TytułDevelopment of low-power high speed (10Gb/s) drivers in CMOS 130 nm technology
    AutorzyMarika KUCZYŃSKA, Szymon BUGIEL, Mirosław FIRLEJ, Tomasz FIUTOWSKI, Marek IDZIK, Jakub MOROŃ, Krzysztof ŚWIENTEK
    ŹródłoMIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — S. 88
  • keywords: SST, driver, CML, transmitter, Shount Peaking, Series Peaking

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208535

5
6
  • [referat, 2015]
  • TytułDevelopment of SOI pixel detector in Cracow
    AutorzySz. BUGIEL, R. DASGUPTA, S. GŁĄB, M. IDZIK, J. MOROŃ, P. Kapusta, W. KUCEWICZ, M. Turala
    ŹródłoSOIPIX2015 [Dokument elektroniczny] : proceedings of the international workshop on SOI Pixel detector : Sendai, Japan, June 3–6, 2015 / ed. by Akimasa Ishikawa. — [Japan : s. n.], [2015]. — S. [1], 1–14
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
9
10
  • [referat w czasopiśmie, 2017]
  • TytułPerformance of the INTPIX6 SOI pixel detector
    AutorzyY. Arai, Sz. BUGIEL, R. DASGUPTA, M. IDZIK, P. Kapusta, W. KUCEWICZ, T. Miyoshi, M. Turala
    ŹródłoJournal of Instrumentation [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2017 vol. 12 art. no. C01028, s. [2], 1–5. — tekst: https://goo.gl/XKJrDL
  • keywords: pattern recognition, cluster finding, X-ray detectors, radiation calculations, radiation damage to electronic components, calibration and fitting methods

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1088/1748-0221/12/01/C01028

11
  • [referat, 2017]
  • TytułPreliminary test beam results of SOI monolithic pixel detectors
    AutorzyDASGUPTA Roma, BUGIEL Szymon
    Źródło5th Beam telescope and test beams workshop 2017 [Dokument elektroniczny] : 24–27 January 2017, Barcelona. — [Barcelona : s. n.], [2017]. — Slajdy 1–14
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
  • [artykuł w czasopiśmie, 2018]
  • TytułSignal coupling to embedded pitch adapters in silicon sensors
    AutorzyM. Artuso, [et al.], S. BUGIEL, R. DASGUPTA, A. DENDEK, [et al.]
    ŹródłoNuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment. — 2018 vol. 877, s. 252–258. — tekst: https://goo.gl/WGV6go
  • keywords: testbeam, sensor irradiation, silicon sensors, detector technology, pitch adapters

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.nima.2017.09.039

14
  • [referat, 2016]
  • TytułSilicon pixel detector prototyping in SOI CMOS technology
    AutorzyRoma DASGUPTA, Szymon BUGIEL, Marek IDZIK, Piotr Kapusta, Wojciech KUCEWICZ, Michał Turala
    ŹródłoElectron technology conference 2016 : 11–14 September 2016, Wisła, Poland / eds. Barbara Swatowska, [et al.]. — USA : Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, cop. 2016. — S. 1017505-1–1017505-6
  • keywords: SOI CMOS, monolithic pixel detector

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.2261485

15
  • [referat, 2018]
  • TytułSOI pixel detectors for CLIC : 2017 testbeam results summary and CLIPS design overview
    AutorzySzymon BUGIEL
    ŹródłoCLIC Detector and physics collaboration meeting [Dokument elektroniczny] : 28–29 August 2018, CERN, Zurich. — [Zurich : s. n.], [2018]. — Slajdy 1–15
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
  • [referat, 2016]
  • TytułSOI pixel R&D
    AutorzyBUGIEL Szymon, DASGUPTA Roma, IDZIK Marek, KUCEWICZ Wojciech, Kapusta Piotr, Turala Michał
    ŹródłoCLIC Workshop 2016 [Dokument elektroniczny] : 18–22 January 2016, CERN, [Geneva, Switzerland]. — [Geneva : s. n.], [2016]. — Slajdy 1–23
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

17
18
  • [referat, 2017]
  • TytułThe beam test results of monolithic pixel detector designed in SOI 200nm technology
    AutorzySzymon BUGIEL
    Źródło11th international ”Hiroshima” Symposium on the Development and Application of Semiconductor Tracking Detectors (HSTD11) in conjunction with 2nd workshop on SOI Pixel Detectors (SOIPIX2017) [Dokument elektroniczny] : 10–15 December 2017, Okinawa. — [Okinawa : s. n.], [2017]. — S. 1–19
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
  • [referat, 2016]
  • TytułThe design and measurements of charge-preamplifier pixel in 200 nm double SOI
    AutorzySzymon BUGIEL, Roma DASGUPTA, Marek IDZIK, Piotr Kapusta, Wojciech KUCEWICZ, Michał TURAŁA
    ŹródłoELTE'2016 : technologia elektronowa : XII konferencja naukowa : Wisła, 11–14 września 2016 : program konferencji. — [Polska : s. n.], [2016]. — S. 33
  • keywords: pixel detectors, double SOI, SOI CMOS

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

20
  • [referat, 2016]
  • TytułThe performance measurements of INTPIX6 SOI pixel detector
    AutorzyBUGIEL S., Arai Y., DASGUPTA R., IDZIK M., Kapusta P., KUCEWICZ W., Miyoshi T.
    ŹródłoPIXEL 2016 [Dokument elektroniczny] : 8th international workshop on Semiconductor pixel detectors for particles and imaging : 5–9 September 2016, Sestri Levante, [Italy]. — [Sestri Levante : s. n.], [2016]. — Slajdy 1–18
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
22
  • [referat, 2016]
  • TytułThe silicon pixel detector design possibilities in SOI CMOS technology
    AutorzySzymon BUGIEL, Roma DASGUPTA, Marek IDZIK, Piotr Kapusta, Wojciech KUCEWICZ, Michał TURAŁA
    ŹródłoELTE'2016 : technologia elektronowa : XII konferencja naukowa : Wisła, 11–14 września 2016 : program konferencji. — [Polska : s. n.], [2016]. — S. 15
  • keywords: ASIC, pixel detectors, silicon on insulator CMOS

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • [referat, 2016]
  • TytułUltra-low power fast 10-bit ADC for multi-channel readout of particle physics detectors
    AutorzyM. IDZIK, S. BUGIEL, R. DASGUPTA, M. FIRLEJ, T. FIUTOWSKI, J. MOROŃ, K. ŚWIENTEK
    Źródło2016 IEEE NSS/MIC [Dokument elektroniczny] : IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC) : 29 October - 5 November 2016, Strasbourg, France : abstract book. — [Strasbourg : s. n.], [2016]. — S. [10] N05-6
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

24
25
  • [referat, 2017]
  • TytułUpdate on SOI studies
    AutorzyR. BUGIEL, S. BUGIEL
    ŹródłoCLIC detector and physics collaborating meeting [Dokument elektroniczny] : 29–30 August 2017, CERN, [Geneva, Switzerland]. — [Geneva : s. n.], [2017]. — S. 1–17
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: